高低溫循環(huán)試驗箱電腦失效驗證試驗升降溫快

簡要描述：高低溫循環(huán)試驗箱電腦失效驗證試驗升降溫快
用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適合電子、電器、手機、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、航天等制品檢測質量

產品型號： SME-100PF

所屬分類：高低溫交變濕熱試驗箱

更新時間：2025-05-17

廠商性質：生產廠家

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詳情介紹

??高低溫循環(huán)試驗箱電腦失效驗證試驗升降溫快

是航空、汽車、家電、科研等領域*的檢測設備，用于測試和確定電工、電子及其他產品及材料進行高溫、低溫溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能。

1）溫濕度控制儀表采用“韓國原裝TEMI990"大屏幕-液晶顯示-可編程微電腦PID控制SSR輸出運行

2）具有PID自整定功能、模糊控制功能、多點報警功能、參數(shù)屏蔽功能、用戶調整功能、斜坡/保溫功能　　
3）傳感器為*Pt100鉑電阻傳感器，精度高，準確　　

高溫低溫試驗導則設備結構該設備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的外殼為采用冷軋鋼板靜電噴塑，內膽采用優(yōu)質不銹鋼板，箱門中間設大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。外型整體美觀大方。該試驗設備主要用于對產品按照國家標準要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產品的物理以及其他相關特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產品的性能，是否仍然能夠符合預定要求，以便供產品設計、改進、鑒定及出廠檢驗用。

高低溫循環(huán)試驗箱電腦失效驗證試驗升降溫快

試樣限制
	本試驗設備禁止：易燃、易爆、易揮發(fā)性物質試樣的試驗或儲存腐蝕性物質試樣的試驗或儲存生物試樣的試驗或儲存強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存
3.容積、尺寸和重量
3.1.標稱內容積 3.2.內箱尺寸 3.3.外型尺寸 3.4.重量	80L W 400×H 500×D 400mm W 700×H 1640×D 1150mm
4.性能
4.1.測試環(huán)境條件 4.2.測試方法	環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、試驗箱內無試樣條件下 GB/T5170.2-2008電工電子產品溫度試驗設備檢驗
4.3.溫度范圍	-40℃→+150℃
4.4.溫度波動度	±0.5℃
4.5.溫度偏差	±2.0℃
4.6.濕度范圍	20%～98%R.H
4.7.濕度波動度	±2.5%R.H.
4.8.濕度均勻度	±3.0%RH（濕度＞ 75%RH） ±5.0%RH（濕度 ≤75%RH）
4.9.升溫時間	-40℃→+150℃ 65min
4.10.降溫時間	+20℃→-40℃ 60min
4.11.負載情況	空載
4.12.溫濕度控制范圍圖
4.13.滿足試驗標準	GB/T 2423.1-2008試驗A：低溫試驗方法 GB/T 2423.2-2008 試驗B：高溫試驗方法 GJB 150.3-1986 高溫試驗 GJB 150.4-1986 低溫試驗 IEC68-2-1 試驗A：寒冷 IEC68-2-2 試驗B：干熱